金鉴李工分享了一套生动的动图，帮助大家快速理解SEM、TEM、AFM和STM这四大电镜原理。让我们通过20幅图深入了解这些显微分析设备的工作机制：

首先，扫描电子显微镜(SEM)利用高能电子束激发样品表面的物理信号，如二次电子和背散射电子，通过探测器捕捉并转化为图像，揭示样品表面的微观形貌，分辨率可达5-10纳米。

透射电子显微镜(TEM)通过电子束穿透薄样品，产生立体角散射，形成亮暗对比的图像，可用于成分分析和电子结构研究。

原子力显微镜(AFM)通过微悬臂上的针尖感知样品表面的微弱力变化，获取表面形貌信息，分为接触和非接触两种扫描模式。

最后，扫描隧道显微镜(STM)通过探测针尖与样品间微小距离变化的隧道电流，实现原子尺度表面形貌的三维成像，甚至可以实现单原子操作。

这些动态图像让电镜原理不再枯燥，轻松掌握材料微观世界的奥秘。