控制图，作为质量控制过程的重要工具，帮助我们通过统计方法对过程质量特性值进行观察、记录和评估，确保生产过程稳定。图中包含中心限（CL）、上控制限（UCL）和下控制限（LCL），这三个参数构成控制限框架，用于监测过程是否处于控制状态。

控制限框架中，点的分布情况可以揭示过程是否正常。若点超出控制限或呈现非随机分布，表明过程可能发生了异常。最早出现的控制图是由沃特·阿曼德·休哈特（Walter A. Shewhart）在1924年提出的不合格品率控制图（p图）。这一基础的控制图帮助工业界开始应用统计过程控制（SPC）。

在众多控制图中，均值和极差图（X(—)和R图）被广泛使用。以均值和极差图为例，图下展示的示例清晰显示了受控和不受控状态的差异。控制图的应用步骤主要包括：数据收集、建立控制限、解析统计数据判断控制状态，以及持续优化以延长控制限的周期。

例如，在应用SPC手册提供的均值控制图时，通过对比均值受控与不受控状态的图示，能够直观地分析过程的稳定性。控制图通过图形化方式直观展示数据变化趋势，支持质量改进和持续优化生产流程。