探讨过程能力指数CP与CPK计算公式，关注双侧、单侧公差情况及有偏移情形下的计算。

对于双侧公差情况，过程能力指数CP的计算基于技术公差T、上下公差限ut、Lt与总体标准差σ。当σ未知时，可通过样本的极差R与平均数R（bar），或样本的标准差S与平均数S（bar）估计。D2、C4为修正系数，根据样本组数量查阅表获取。

若CP值为2且σ=0.5，不合格率则为2ppm（即2×10^-6）。由此可推知，从CP=1，σ=1时，T=6，即能力指数与不合格率呈一一对应关系。

在单侧公差情况下，计算过程能力指数时需区分上下限要求。若仅有上限要求，上限过程能力指数CPU计算在μ≥TU时；若仅有下限要求，下限过程能力指数CPL计算在μ≤TL时。

当μ与σ未知时，可利用样本估计μ与σ。例如，用X（bar）估计μ，用S估计σ。

当产品特性分布存在偏移，即μ与公差中心M不重合时，需对CP进行修正以反映实际情况。修正后的过程能力指数CPK的计算公式涉及分布中心μ与公差中心M的偏移ε与相对偏移K。当μ=M时，K=0，CPK=CP。同样，CPK的计算也需在稳定状态下进行。